磁性法和渦流法的測量技術
磁性法和電渦流法的測厚儀原理見圖
磁性法:當探測頭與覆蓋層接觸時,探測頭的磁頭與磁性金屬基體構成一個閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,導致磁通量的變化。一般覆蓋層的厚度越厚,磁通量越小,感應電動勢越小。通過測量其變化,可導出覆蓋層的厚度。
渦流法:利用高頻交變電流在探測頭的線圈中產生高頻交變電場,當探測頭與覆蓋層接觸時,探測頭下面的導體產生電漏流,并對探測頭中線圈產生反饋作用,通過測量反饋作用的大小可導出覆蓋層的厚度。
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