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半導體分立器件靜態測試系統集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等）的靜態參...

功率器件靜態測試機1700V/1000A集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導...

普賽斯1700V/1000A功率器件靜態測試設備，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN...

高電壓+大電流igbt模塊測試設備集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等）...

普賽斯igbt測試設備+igbt測試儀，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導...

GaN靜態參數測試設備集多種測量和分析功能一體，可精準測量功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代半導體等）的靜態參數，電壓可高達10...

SiC靜態參數測試設備3500V/6000A測試主機內部采用的電壓、電流測量單元，均采用多量程設計，測試精度為0.1%。其中，柵極-發射極，較大支持30V@10...

普賽斯大電流傳感器測試系統動靜態參數測試系統，可用于精準測量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾 森線圈等）的靜態與動態參數，單臺大電流源電流可高 達...

半導體分立器件靜態測試儀認準武漢生產廠家普賽斯儀表，普賽斯以自主研發為導向，深耕半導體測試領域，在I-V測試上積累了豐富的經驗，先后推出了直流源表，脈沖源表、高...

1000A電流傳感器測試系統50A/us上升沿可測量不同電流傳感器的靜態與動態參數，具有大電流特性、極快的達到50A/us級上升沿、可測量KHz級帶寬等特點，能...

普賽斯功率半導體參數分析儀，主要包括測試主機、測試線、測試夾具、電腦、上位機軟件，以及相關通訊、測試配件等構成。整套系統采用普賽斯自主開發的測試主機，內置多種規...

普賽斯大功率激光器老化測試系統是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發熱嚴重等問題而創新開發推出的一套通用性...

普賽斯CTMS電流傳感器測試系統，可用于精準測量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾 森線圈等）的靜態與動態參數，單臺大電流源電流可高達1000A。霍...

霍爾電流傳感器測直流電流集多種測量和分析功能一體，可精準測量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等）的靜態與動態參數，單臺大電流源電流可高達10...

普賽斯泵浦激光器老化系統?是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發熱嚴重等問題而創新開發推出的一套通用性好、...

普賽斯大功率IGBT靜態參數測試系統集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（MOSFET、BJT、IGBT等）的靜態參數，具有高電壓和大電流...

普賽斯SiC|GaN第三代半導體靜態參數測試系統，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN...

普賽斯MOSFET|BJT靜態參數測試系統，集多種測量和分析功能一體，可以精準測量不同封裝類型功率器件（如MOSFET、BJT、IGBT以及SiC、GaN第三代...

霍爾電流傳感器測試平臺集多種測量和分析功能一體，可精準測量各種電流傳感器（霍爾電流傳感器、羅氏線圈、皮爾森線圈等）的靜態與動態參數，單臺大電流源電流可高達100...