儀器簡介：
1. 適合做多層薄膜的深度分析。
2. 很好的、耐用的、普通目的的二次離子質譜儀。
3. 方便使用。
4. 樣品可以手動轉換，由于分析速度快所以每天可以分析一定數量的樣品。
5. 我們的系統可配置快速原子槍，使我們可以輕松處理絕緣的樣品。
6. 我們還可以做元素成像（就象化學地圖）和混合模式掃描，自動測量正、負和中性粒子。
7. 我們的系統是典型的超高真空工作臺，很容易滿足很多其它分析的使用。

結構緊湊，但不損失性能。真正的高性價比。

技術參數：
質量數范圍：300，510或1000amu
分辨率：5%的谷，兩個相連的等高峰。
檢測器：離子計數檢測器，正、負離子檢測
檢測限：1:10E7
質量過濾器：三級過濾四極桿（9mm桿）
主離子槍： A，氧離子或其它氣體，能量到5KeV
B，Ga離子槍，能量25KeV（選配）
空間分辨率：A：100～150um
B: 50nm
取樣深度：2個單分子層（靜態）
不受限制（動態）

Hiden SIMS Workstation二次離子質譜儀 主要特點：
高靈敏度脈沖離子計數檢測器，7個數量級的動態范圍
SIMS 成像，分辨率在微米以下
光柵控制，增強深度分析能力
所有能量范圍內，離子行程的小擾動，及恒定離子傳輸
差式泵3級過濾四極桿，質量數范圍至1000amu
靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器
Penning規和互鎖裝置可提供過壓保護
通過RS232、RS485或Ethernet LAN，軟件 MASsoft控制

關鍵詞：質譜儀離子計