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6月28日消息，新思科技(Synopsys)近日宣布推出DesignWare®工藝、電壓和溫度(PVT)監控和傳感子系統IP核，用于臺積公司業內前沿的N3制程技術。PVT監控和傳感子系統IP核已被納入臺積公司庫和IP質量管理計劃(TSMC9000計劃)，可為客戶提供具有高度競爭力的性能優勢，適用于人工智能(AI)、數據中心、高性能計算(HPC)、消費品和5G等多種目標市場應用。采用臺積公司前沿制程的系統級芯片開發者可以利用深度嵌入式PVT監控和傳感子系統技術來評估生產過程中的關鍵芯片參數，并在芯片生命周期的每個階段實時測量和分析動態條件。
基于當今的前沿制程技術、基礎優化方案、遙測技術和分析方法，剛加入新思科技的Moortec所提供的芯片內傳感技術始終是實現高性能和可靠性的關鍵要素。子系統中的IP核是新思科技芯片生命周期管理(SLM)平臺的基礎要素。SLM流程首先將片內傳感器和PVT監視器置入芯片，這些傳感器和監視器提供的數據有助于更好地了解芯片性能和功耗情況，并使SLM平臺的分析引擎能夠在半導體生命周期的每個階段(從早期設計階段到實際任務模式操作)進行更詳細精確的優化。
臺積公司設計架構管理事業部副總經理Suk Lee表示：“臺積公司持續與我們的生態系統合作伙伴進行合作，解決客戶在功耗和性能方面的設計挑戰，并采用臺積公司的前沿技術為下一代芯片創新提供設計解決方案。新思科技DesignWare PVT監控IP核充分彰顯了我們與新思科技持續合作的價值所在，并將繼續為雙方的共同客戶提供產品支持，協助客戶基于臺積公司N3制程技術實現更佳功耗和性能優勢。”
DesignWare PVT子系統的創新模塊化設計提供了一種PVT監視器結構，可根據目標應用進行高度配置。該方案專門針對臺積公司N3制程技術，包括可實現高度本地化熱分析的分布式熱傳感器、用于防止熱失控的可編程防災跳閘傳感器、以及額外的熱二極管，確保在芯片斷電時也能進行獨立的裸片溫度測量。整個系統由第四代PVT控制器控制，可以實現對獨立嵌入式監視器和傳感器的多實例數據的輕松訪問。
新思科技硬件分析和測試事業部副總裁Amit Sanghani表示：“隨著市場對于設計復雜性和器件柵極密度的需求不斷提升，采用PVT監控技術已成為前沿制程節點芯片設計成功的關鍵所在。作為新思科技創新型芯片生命周期管理平臺的一部分，全系列DesignWare嵌入式PVT監視器和傳感器套件將為廣大開發者提供創新的片內傳感技術和實時深度芯片監測，從而在整個芯片生命周期中提高產品利用效率。”DesignWare PVT監控和傳感子系統可針對特定行業應用進行配置，現已可供早期客戶集成。
(原標題：新思科技推出DesignWare PVT子系統用于臺積公司N3制程技術)
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