伯東企業（上海）有限公司
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1064nm窄帶濾光片是在各類玻璃材質表面通過特殊的鍍膜工藝而形成的光學元件,可以從入射光中選取任意所需求的波長,半峰值一般在5nm~50nm之間,具有波長定位準確、透過高、截止深、溫漂小、耐用性好、光潔度好的特點,是激光設備應用中常見的濾光片解決方案.1064nm窄帶濾光片使用在各種特殊的場合和惡劣的氣候環境,要求濾光片在苛刻的使用條件下有良好的性能,故膜層的牢固度和技術指標穩定性非常重要.這些性能包括:大口徑面積內膜層均勻性好、透射率要求高、膜層牢固度高、中心波長穩定性好(零漂移)等.上海伯
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紫外濾光片是一種光學元件,通過使用分散在玻璃材料表面的光學薄膜控制入射光通過膜層后不同波長光的透反比.222nm是紫外不可避免的一個波段,因為其生物體透過率低,被譽為對人體安全的紫外線.222nm遠紫外殺菌產品一定程度上解決了傳統紫外線不能直接照射人體的痛點問題,兼顧了功能性和安全性,實現了人機友好共存,有效減少和滅殺身體表面多達99.9%的細菌和病原體.紫外線在222nm下工作對濾光片生產廠家來說是一項挑戰,因為許多常用材料在這個波段有較大的吸收、甚至不通光.大多數干涉濾光片的設計都假設光只被
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Aston 質譜分析儀搭配 Scrubber 半導體尾氣處理設備進行氣體檢測
半導體工藝一般會產生各種工藝氣體和顆粒材料副產品,有害氣體需要以受控方式進行處理.上海伯東日本AtonarpAston質譜分析儀與Scrubber半導體尾氣處理設備聯用,對處理完的氣體在線監測分析,并對分析數據進行監控和記錄,使其符合環境法規.上海伯東Aston™質譜分析儀半導體尾氣檢測解決方案Aston質譜儀與半導體尾氣處理設備排氣端相連,半導體廢氣處理設備Scrubber排出的氣體先經過水洗塔內進行噴淋水洗溶解,帶走一些毒性腐蝕性排放物,然后在使用Aston進行剩余氣體檢測和分析,主要檢測N -
ATS-545：熱沖擊測試設備全量程240攝氏度的溫控調整；溫度變化率高達288°C/分鐘！IEEETransactionsonDeviceａndMaterialsReliability(Volume:20,Issue:4,December2020)DOI10.1109/TDMR.2020.3025895艱深科研工作背后的巨大助力——ThermoStream™，inTEST集團ThermoStream™品牌的熱沖擊測試集成環境（ATS-545-M）助力本文作者You-CheolJang教授深挖了
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新能源汽車IGBT功率器件高低溫沖擊測試IGBT屬于功率半導體器件,在新能源汽車領域,IGBT作為電子控制系統和直流充電樁的核心器件,直接影響電動汽車的動力釋放速度,車輛加速能力和高速度.IGBT功率器件作用新能源汽車應用中IGBT功率模塊的主要作用是交流電和直流電的轉換,同時IGBT還承擔電壓的高低轉換的功能.比如,充電樁充電的時候是交流電,需要通過IGBT轉變成直流電,在汽車電子領域IGBT主要用于電機驅動,DC/DC升壓變換器,雙向DC/AC逆變器,以及充電端的DC/DC降壓變換器.IGB
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inTESTATS-710E車載芯片高低溫測試解決方案上海伯東美國inTESTThermoStream高低溫沖擊熱流儀,為車載芯片提供穩定和高效的溫度測試解決方案,保證車規產品的高安全性,高可靠性和高穩定性,inTEST高度適配各類測試平臺,協助企業生產研發符合AEC-Q100可靠性認證的車載芯片.inTESTATS-710E車載芯片高低溫測試解決方案由于車載電子產品基本覆蓋汽車產品的全生命周期,因此需要符合汽車功能安全標準,而高低溫沖擊測試是其用于量產車上安全相關零部件的必要條件.美國inTE
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inTESTSigma高低溫試驗箱材料拉伸測試上海伯東代理美國inTESTSigma高低溫試驗箱通過可設計的孔徑,端口直接集成到拉伸測試裝置.將溫度測試與拉伸測試相結合,進行材料拉伸高低溫試驗.溫度范圍-185°C至500°C,符合ASTM,MIL-STD測試要求.高低溫拉伸測試是一種在恒定溫度下對材料進行拉伸加載的試驗方法,通過在高溫或低溫環境下施加恒定的拉伸載荷,測量材料的應力和應變.材料測試通常需要一個長而窄的試驗腔來容納測量設備.在拉伸測試中,物體在一個方向上被拉伸,并施加壓力直到失效,
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上海伯東氦質譜檢漏儀精餾塔檢漏精餾通常在精餾塔中進行,氣液兩相通過逆流接觸,進行相際傳熱傳質.液相中的易揮發組分進入氣相,氣相中的難揮發組分轉入液相,于是在塔頂可得到幾乎純的易揮發組分,塔底可得到幾乎純的難揮發的組分.精餾塔需要檢漏為了提供精餾過程中氣體和液體產物的純度,需要保證精餾塔和管路年泄漏率低于1%/年.常用的肥皂水檢法耗時費力,無法檢測微小的泄漏.精餾塔漏氣將直接影響產品的質量導致損失.氦質譜檢漏法作為一種快速,無損的檢漏方法,已廣泛應用于精餾塔的日常維護中.氦質譜檢漏儀與傳統泡沫檢漏
